Μικροδομική Ανάλυση Υλικών

Οι υπηρεσίες προηγμένης προετοιμασίας δειγμάτων πλακιδίων διεργασίας{0}}σε επίπεδο FIB και ανάλυσης TEM παρέχουν ακριβείς λύσεις προετοιμασίας δειγμάτων και δομικής ανάλυσης για προηγμένα τσιπ

Η GRGTEST Metrology παρέχει επαγγελματικές υπηρεσίες ανάλυσης δέσμης ιόντων εστιασμένης διπλής-δέσμης (DB-FIB). Οι δημοφιλείς υπηρεσίες δοκιμών περιλαμβάνουν τμήματα δειγμάτων TEM για προηγμένες

Το ηλεκτρονικό μικροσκόπιο μετάδοσης (TEM) έχει γίνει ένα απαραίτητο αναλυτικό όργανο στους τομείς των υλικών και των ημιαγωγών. Είναι ένα οπτικό όργανο ηλεκτρονίων που χρησιμοποιεί μια δέσμη

Ο εξοπλισμός κοπής γκοφρέτας και οι υπηρεσίες απεικόνισης SEM είναι βασικά τεχνολογικά υποστηρίγματα για την επιστήμη των υλικών, τη βιομηχανία ηλεκτρονικών και τη βιοϊατρική έρευνα και είναι

Το μικροσκόπιο ατομικής δύναμης Bruker Dimension ICON6 υποστηρίζει 12 λειτουργίες, συμπεριλαμβανομένων των επαφών, του χτυπήματος και της πίεσης αιχμής, για την κάλυψη των αναγκών δοκιμών

Το EDS σημαίνει Energy Dispersive Spectrometer, το οποίο είναι μια μέθοδος ανάλυσης φασματοσκοπίας διασποράς ενέργειας ακτίνων Χ. Η αρχή του βασίζεται στο γεγονός ότι διαφορετικά στοιχεία εκπέμπουν

Compared to traditional gallium-ion focused ion beam (Ga-FIB), PFIB utilizes a more powerful xenon (Xe) ion beam, achieving a maximum current of 2.5 μA at 30 keV energy, which increases its etching